Имеется собственный автомобиль

Права категории B

Есть опыт в моделировании квантово-механических процессов а также распространения ЭМ волн. Есть знания в схемотехники, умения в расчётах электрических цепей. Имею опыт в области микропроцессорном программировании. Опыт работы в Delphi и C#, а также в мат. пакетах Mathcad, Matlab Знания СВЧ техники. Есть опубликованные статьи в рецензируемых журналах из перечня ВАК, scopus и web of science. 1. V. B. Orlenson, A. E. Volvach; Enhanced microwave and far IR absorption of nanometer thin conductive films in the case of total internal reflection. Appl. Phys. Lett. 10 June 2024; 124 (24): 241701. https://doi.org/10.1063/5.0221541 2. V. B. Orlenson, L. N. Akhramovich, and A. E. Volvach , "Broadband absorption enhancement of metal-dielectric structures in the optical range and their application in solar energy storage", Appl. Phys. Lett. 120, 084105 (2022) https://doi.org/10.1063/5.0075103 3. Старостенко В.В., Орленсон В.Б., Мазинов А.С., Фитаев И.Ш. Исследование поглощения СВЧ излучения в сверхтонких проводящих пленках // ЖТФ 2020. Т. 90, Вып. 8. С. 1348-1353. 4. Старостенко В.В., Орленсон В.Б., Мазинов А.С., Ахрамович Л.Н. Квантово-механический подход к описанию взаимодействия СВЧ-электромагнитного излучения с тонкими проводящими пленками // ЖТФ 2020. Т. 46, Вып. 9. С. 43-47. 5. Старостенко В.В., Мазинов А.С., Фитаев И.Ш., Таран Е.П., Орленсон В.Б., Динамика формирования поверхности проводящих пленок алюминия на аморфных подложках // Прикладная Физика. 2019. Вып. 4. С. 60-65. 6. S.A. Zuev, A.S. Zuev, V.V. Starostenko, E.V. Grigoriev, A.S. Mazinov, E.P. Taran, I.Sh. Fitaev, V.B. Orlenson. Breakdown features in functional devices of telecommunication systems. 27th Telecommunications Forum // TELFOR 2019, pp. 1 – 3. V.B. Orlenson, S.A. Zuev, V.V. Starostenko // The nanometer conductive film diffraction properties. ITM Web of Conferences 2019 30, 08011 7. I.Sh. Fitaev V.B. Orlenson, Y.V. Romanets, A.S. Mazinov // Surface topologies of thin aluminum films and absorbing properties of metal dielectric structures in the microwave range. ITM Web of Conferences 2019 30, 08013